カメラセレクター(選択ツール)

半導体検査用のカメラ

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あらゆる用途には、それぞれ個別の要件があります。お客様のご用途に応じた最適なカメラ・ソリューションを見つけるお手伝いを致します。

 

半導体や電子部品の製造、加工、検査を行うシステムに対する要求レベルは、技術の進歩に伴い高まっています。これまで以上に小型化が進み、数量や品質に対する要求レベルが高まる中、さらに高い解像度、さらに高速なフレームレート、追加の機能が必要とされています。

 

このような要求レベルの高い用途では、部品の選定や組立てから、単一部品の最終検証やトラッキングなど、製造工程の複数の段階で機械検査が行われます。このような製造工程、工程管理、品質検査は、主にマシンビジョンによって実現されています。

 

カメラを選定される際には、以下の点が重要です。

 

  • 微小な欠陥の検出や極小部品の精密検査(例:プリント回路基板やディスプレイ検査、表面の割れ、傷、凹み、変色などの波形検査)に必要な高解像度イメージ画像機能。
  • 高解像度イメージングと高スループットを必要とする、高帯域幅が必要な厳しい精度が要求される検査アプリケーション
  • 幅広いセンサーポートフォリオを備えた多様なプラットフォーム。
  • プレス加工された部品のサイズ、形状、位置を測定するための精密なアクティブセンサーアライメント。
  • 電子部品に使用されるICやキーの配置や向きを制御するための様々な解像度。
  • イーサネットベースのプロトコル(1GigE/5GigE)で、マトリックスコードやロットコードなどの製品識別マークを簡単に処理可能。
  • 可視領域外(短波赤外線、紫外線など)に対応したカメラ

短納期対応

Alviumカメラには、すべて弊社独自のプラットフォームを採用しており、多様な要件に対応できるよう6つの異なるインターフェースをご用意しています。Alviumプラットフォームは、豊富な高品質イメージセンサー、様々なレンズマウントとハウジングのオプション、幅広い分光感度などを備えています。同プラットフォームでは、200種類以上のカメラモデルから選択が可能で、最高レベルの柔軟性と拡張性を有しています。

弊社独自のプラットフォームは、小さな変更から大きな変更まで、様々なカスタムが可能です。Alviumカメラは最適なご選択です。
個別のOEMカメラ・ソリューションの実現には、当社の技術専門家がサポートします。

Alviumカメラは、カンバン方式を導入しており、短納期でのオーダーにもご対応が可能です。

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